Магазин

Спасибо

Один из наших специалистов по фильтрации свяжется с вами в ближайшее время.

Повышенная эффективность фильтров содержащихся в воздухе молекулярных загрязнений для фотолитографии

Содержащиеся в воздухе молекулярные загрязнения (AMC) являются причиной осложнений, возникающих при производстве полупроводников. Разработанная компанией Donaldson технология для систем защиты линз (LPS) обеспечивает наиболее эффективный способ достижения желаемых и даже более высоких результатов.

Закрыть